←Object ZH 20因为以下原因，您没有权限编辑该页面： 您请求的操作仅限属于这些用户组的用户执行：用户、管理员、行政员、editor您没有权限编辑页面命名空间内的页面。 您可以查看和复制此页面的源代码。 {{DISPLAYTITLE:Object ZH 20 - 卡出装置}} <!-- 本页由 Fandom 后室中文维基《Object ZH 20》搬运而来。原页面的 M.E.G. 主题 CSS 已移除，论文折叠保留，图片外链 Fandom。 --> ==描述== '''Object ZH 20'''或'''卡出装置'''，是一种能使物品通过类似于人类卡出的现象前往其他楼层的稀有装置。 '''Object ZH 20'''的外形是一个长宽高均为1m的正方形银色金属盒（一般为铁或不锈钢，少数为铜），顶部有一个可打开的盖子。装置始终有一个侧面的中央存在一个红点作为卡出方向的指示，在存在红点的面所对的面上一定有一个红色接线柱与一个黑色接线柱，上面分别标有正极和负极，同时这一面上还分别有一个绿色指示灯与一个红色指示灯。打开盖子后，内部有较大空间用于存放即将进行卡出的物品。 当装置内部有物体时，在接线柱两端施加超过5伏特的电压，装置就会启动。待绿色指示灯亮起，装置中的所有物品均会被卡出到其他楼层。这一过程往往伴有轰鸣声。 <span style="color:red">M.E.G. 警告：M.E.G.严禁在生存等级大于4的楼层使用此装置，以避免危险实体出逃到其他楼层。</span> ==使用方法== #将物品放入装置内部，并关闭盖子 #将带有红点的一面紧贴卡出目标 #接通电源，等待绿色指示灯亮起 #此时物品已经卡出，可以断开电源。 ==出现地点== '''Object ZH 20'''会随机出现在任何一个仓库的角落，但该仓库堆放的物品与'''Object ZH 20'''越相似，出现'''Object ZH 20'''的概率就越高，但在堆放'''Object ZH 20'''的仓库中反而不会出现，具体原因不明确。 必须留意的是，随机出现的'''Object ZH 20'''有小概率的几率是故障的。 ==故障排除== 该装置可能出现故障。在出现故障后绿色指示灯一定不会亮起，红色指示灯一般会亮起或闪烁，这里列举了一些可能的情况与解决方案。如果你遇到的情况不在此列，请查看下文的原理部分尝试自行解决，并在解决后把修复方法添加到这里。M.E.G.会感谢你的 :-) ===红色指示灯常亮，物品没有卡出=== 原因：目标不可卡出。 方案：更换目标。 ===红色指示灯闪烁，物品没有卡出=== 原因：目标可以卡出，但本次没有成功。 方案：适当增加电压；多次重新尝试。 ===红色指示灯亮起，物品被卡出=== 原因：物品被卡出到未知地点，而不是目标。 方案：根据下文检查装置是否正常，并重试。 ===红色指示灯闪烁，物品“消失”或“出现在装置外”=== 原因：没有放入任何物品。 方案：放入物品。 ===没有指示灯亮起，物品没有卡出=== 原因：装置损坏。 方案：更换装置或尝试维修。 ==结构== M.E.G.在后室其他电路和材料爱好者的合作下拆解了一台'''Object ZH 20'''以研究其结构。目前得出了下述结论。 本装置内部有芯片，连接有许多定值电阻，但其核心结构是一块结构类似于石墨的导体，它包裹了整个存放物体的腔体，此外还有一个会发出轰鸣声但没有带动任何物体的马达与核心导体串联。 经实验了解到，那块导体在通电后就会使物体卡出，卡出目标是在电流方向上紧贴的物体。值得注意的是，该导体在通电后电阻会脉冲式地发生变化，该脉冲是调制信号。从它与芯片的接线可以看出该信号反映装置的状态。但其信号格式毫无规律，芯片中存储的程序毫无逻辑可言，对信号内容的破译以失败告终。 在后续的实验中发现，只要核心导体完整，装置就能够正常工作。但取出该导体单独使用时，成功率与准确性会大幅下降，原因未知。 <div style="border-left:3px solid #ccc;padding:5px 10px;color:#555;">M.E.G.研究员：可能是装置上有某种我们还未知的物质或者效应，能使那种导体能够更好地工作。</div> ==特性== 在M.E.G.进行了实验以确定其特性。以下是目前的已知情况。 ===电压与成功率正相关=== 本装置可对有概率卡出的目标使用，在5V电压下，进入的概率是人类尝试卡出成功概率的25%。实验表明电压大小与成功在对有概率卡出的目标使用时正确卡出的概率正相关，大约在15V时就能达到和人类相同的概率。但必须说明的是，该装置有电压上限，大约960V就会损坏装置，届时该装置将不能工作。 ===结构作用未知=== 实验时发现，必须关闭盖子，装置才会启动。但研究员指出限制启动的是装置的电路。在尝试强行接通电路后装置正常启动，使用过程中没有出现任何问题。 同时，该装置所发出的轰鸣声是一台没有实际作用的马达发出的，猜测起用途是指示装置正在工作。 <div style="border-left:3px solid #ccc;padding:5px 10px;color:#555;">M.E.G.研究员：但我们还是强烈建议使用时不要更改该装置的任何部分，以免造成未知的事故。</div> ===对人类有效=== 经测试，如果人类进入该装置并启动它，同样可以达到卡出的效果，但值得注意的是，在提高电压后，在该装置内的人类也可以提高成功卡出的概率。 ==原理== 该装置的核心是其类似于石墨的导体，M.E.G.科学家已对其进行分析，结论为该导体有与后室场交互的能力，可以使物体穿过楼层之间的屏障，但具体细节仍不明确。详细信息可以查看这位科学家的论文《电场对后室场的影响初探》（见附录）。 ==用途== 目前，对该装置被广泛应用于物品自动化运输与流浪者通勤。M.E.G. 在大部分难以卡出但需求量大的卡出点设置了专门前哨，通过高压电下的'''Object ZH 20'''帮助流浪者快速卡出。同时M.E.G.开启了“全自动物品运输探索计划”并启动了第一条基于'''Object ZH 20'''的自动物品运输线路，该计划致力于在3年内探索出一条基于'''Object ZH 20'''的全自动物品运输解决方案。 <div style="border-left:3px solid #ccc;padding:5px 10px;color:#555;"> ==附录：《电场对后室场的影响初探》== {{Collapse|num=论文 |initial=点击展开论文 |final=点击关闭 本文发表在由M.E.G. CN主办的后室科学权威期刊《后室原理》上。 论文编号：2c5d7899-2bd9-6dde-14ca-90ddd8abb827。 === 摘要 === 本文探讨了一种在后室场理论框架下，经典电场对后室场的相互作用。本文通过利用'''Object ZH 20'''进行实验，证明了电场可以一定程度上影响后室场。这些实验为未来的研究提供了一个初步的方向。 === 关键词 === 后室场、电场、耦合效应、概念性实验 === 1. 引言 === 近年来，用于解释后室现象的理论框架日益增多。其中“后室场”理论一种新兴的概念，受到了后室科学界的广泛关注。已有的大量研究证明后室场可以轻易影响电场，但少有电场影响后室场的案例。本文旨在通过对'''Object ZH 20'''的分析，探索电场对后室场的影响机制。 === 2. 背景与动机 === ==== 2.1 后室场介绍 ==== 后室场是一种假定存在的物理场。在初步研究中，可以用于解释后室出现的多种现象，提供跨楼层分析物理现象，预测楼层性质的理论依据，预测结果有较高的可信度。 ==== 2.2 电场的后室场的潜在影响 ==== 在已有的对后室场理论的研究中已经广泛地认为后室场能够轻易影响电场。比如所有凭空工作的机器都被认为是后室场影响电场的直接表现。 一般认为，电场难以难以影响到后室场。但近日发现的'''Object ZH 20'''否定了这一观点。先前的实验的表明，仅需为该物品内部的某种导体通上5V左右的电压，该导体就可以对后室场产生足够强度的影响，从而导致物品卡出。同时，在不稳定楼层使用无线电时会造成的实体增多、耳鸣、恶心等现象也佐证了这一情况。然而，这些影响的具体机制尚不清楚。 === 3. 概念性理论框架 === ==== 3.1 后室场的概念性描述 ==== 后室场理论认为后室场与其他场的相互作用可以形成后室中所有物质与现象，而包括卡入卡出在内的所有后室现象，都是后室中的少数物质影响后室场的结果。 在先前的研究中，已经确定可以使用[[后室之钥]]或[[指层针]]测量结果的误差确定当前地点的不稳定程度，从而间接测得当前地点后室场的强度。 ==== 3.2 电场与后室场的耦合机制 ==== 我们假设点场可以通过某种未知机制与后室场耦合。具体地讲，就是电场周围有后室场，后室场的方向与电场相反。而具体会产生后室场的大小与材料和电压有关。 === 4. 概念性实验 === ==== 4.1 实验设计 ==== 我们设计了一组概念性的实验来验证XX场与电场之间的耦合效应。实验设计包括： * '''实验装置'''：连接有包括'''Object ZH 20'''中拆下的导体在内的多种导体的可变压移动电源、用于测量后室场强度的[[后室之钥]]和收音机。 * '''实验条件'''：分别在稳定度不同的楼层测试在不同电压下每种导体对后室场影响的强度。 ==== 4.2 实验步骤 ==== # '''初始化设置'''：设置实验装置并摆放[[后室之钥]]，校准收音机。 # '''改变电场条件'''：启动移动电源，分别接通每种导体，并改变电压。 # '''数据采集'''：分别记录[[后室之钥]]的误差 # '''更换环境'''：在其他稳定度不同的楼层重复实验 # '''数据分析'''：分析数据以确定电场对后室场的影响 ==== 4.3 实验结果 ==== 实验结果显示，几乎所有的导体到可以对后室场产生影响，但'''Object ZH 20'''中拆下的导体影响最为明显，达到了其他导体的数千倍。同时移动[[后室之钥]]，发现在导体正极后室场强度大，负极强度小。 另外，除'''Object ZH 20'''中拆下的导体外，其他导体在不稳定楼层的影响比在稳定楼层影响大。 === 5. 讨论 === 上述实验初步证明了电场与后室场的耦合效应与我们的理论框架，在此之外我们还发现了两个奇怪的现象： # '''Object ZH 20'''中的导体对后室场的影响显著大于其他任何导体，哪怕是和它最像的石墨。 # '''Object ZH 20'''中的导体不会出现在不同稳定度的楼层产生不同影响的情况。 我们认为造成这一现象的原因是导体的微观结构和材料，但我们仍需要进一步的研究来验证这一假设。 === 6. 结论 === 本文提出了一种关于后室场与电场之间潜在联系的概念性理论框架，并通过概念性实验验证了这一假设的有效性。未来的研究将着重于探索这一耦合效应的实际物理机制，并进一步验证其在实验中的表现。 === 7. 展望 === 未来的研究可以从以下几个方面进行： * '''实验验证'''：继续设计实验，验证材料结构对实验现象的影响。 * '''数学建模'''：基于本文提出的概念性框架，进一步发展数学模型来更准确地描述这种耦合。 * '''应用探索'''：研究这种耦合效应在实际应用中的可能性，如在通讯技术、能源转换、物流等领域。 * '''跨学科研究'''：与其他领域的专家合作，探索这一现象与材料科学、后室生物学等领域的交叉点。 === 参考文献 === # Zhang, Y., & Li, X. (2033). Concept and Preliminary Investigation of the Back-field. ''The Backrooms'', 53(1), 56-78. # 陈明, 王华. (2034). 后室场强度的初步测量 ''理论物理学报'', 54(2), 123-145. }} </div> ---- <small>本页面搬运自 [https://backrooms.fandom.com/zh/wiki/Object_ZH_20 Fandom后室中文维基·Object ZH 20]，遵循 CC-BY-SA 许可协议。</small> [[分类:中分原创]] [[分类:集群ZH]] [[分类:物品]] 此页面嵌入的页面： 模板:Collapse（查看源代码）返回Object ZH 20。
